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发射率测试仪-TSS-5X-3-深圳万仪

日本japansenor公司TSS5X-3红外发射率检测仪总代,用于陶瓷、断热材料材料放射测量是在常温状态下，能快速方便的测量各种材质的放射率。适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。

TSS-5X-3红外发射率检测仪技术规格：

测定波长：2～22μm

测定范围：放射率0.00～1.00

测量精度：?0.01以内

测定面积：Φ15mm

测定距离：12mm

材料温度：10～40℃（室温）

数值显示：LED数位显示

输　　出：0～0.1V；0～1V Full-Scale

环境温度：10～45℃

环境湿度：35～85％（无结露状态）

使用电源：AC100~240V, 50/60Hz

外型尺寸：本体H156 x W306 x D230 mm, 2.8Kg

探侧头Φ51 X L137 mm, 0.6Kg

附属品：放射率0.06, 0.97基准片各一片，收纳箱一个。

制造商：日本侦测器株式会社

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